メッセージを送る
Opto-Edu (Beijing) Co., Ltd. 0086-13911110627 sale@optoedu.com
A63.7006 Sem Scanning Electron Microscope 20x~60000x

A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x

  • ハイライト

    60000x semの走査型電子顕微鏡

    ,

    opto edu semの走査型電子顕微鏡

  • 決断
    15nm@30KV (SE)
  • 拡大
    20x~60000x
  • 電子銃
    前集中させたタングステンのフィラメントのカートリッジ、バイアス電圧自動システム
  • 電圧
    「加速の電圧1KVへの30KVの1KV/5KV/10KV/15KV/20KV/30KV-6ステップ
  • レンズ系
    「2段階ダイヤリングの電磁石の集光レンズ、1段階の電磁石の対物レンズ」
  • 最高の標本
    直径の70mm、高さの30mm
  • イメージ転位
    XのYのイメージ転位±150um
  • イメージのフォーマット
    BMP、JPEG、PNG、TIFF
  • 自動機能
    自動開始、自動焦点、自動明るさ/対照
  • 写真の表示
    拡大、探知器のタイプ、加速の電圧は、モード、ロゴ(テキスト)、日付に掃除機をかける及び時間は、マーカー、スケール棒、等をショートメッセージを送る。
  • 起源の場所
    中国
  • ブランド名
    OPTO-EDU
  • 証明
    CE, Rohs
  • モデル番号
    A63.7006
  • 最小注文数量
    1 PC
  • 価格
    FOB $1~100000, Depend on Order Quantity
  • パッケージの詳細
    輸出交通機関のためのカートンのパッキング、
  • 受渡し時間
    5~20日
  • 支払条件
    T/Tの西連合、Paypal
  • 供給の能力
    5000かPCS/月

A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x

タングステンのフィラメントの走査型電子顕微鏡、SE、20x~60000x

  • 探知器SE、任意BSE、EDS、CCDとの20x~60000x決断15nm
  • 標準的なX/Y/R 3は働く段階、段階X/Y/Z/R/Tを働かせる任意斧5本打ち切る
  • 2段階ダイヤリングの電磁石の集光レンズ、1段階の電磁石の対物レンズ
  • 真空システム:1つのターボ分子Pump+ 1機械回転式ポンプ
  • 自動開始、自動焦点、自動明るさは、調節する対比する

A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 0
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 1
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 2
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 3
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 4
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 5
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 6
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 7
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 8
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 9
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 10
A63.7006 Semの走査型電子顕微鏡20x~60000x 11

タングステンのフィラメントの走査型電子顕微鏡(SEM)
 A63.7006A63.7015
決断15nm@30KV (SE)5nm@30KV (BSE)
拡大20x~60000x20x~150000x
電子銃前集中させたタングステンのフィラメントのカートリッジ、バイアス電圧自動システム
電圧加速の電圧1KVへの30KV、
1KV/5KV/10KV/15KV/20KV/30KV-6ステップ
レンズ系2段階ダイヤリングの電磁石の集光レンズ、
1段階の電磁石の対物レンズ
開き-調節可能なアイリス絞り30/50/50/100umの高リゾリューションのイメージを得る変更の電子ビーム
真空システム回転式ポンプ、100Liters/min
ターボ分子ポンプ、70Liters/sec
Ttimeの十分に自動 <3 Minutes="">真空制御の下のポンプ
探知器SE:二次電子の探知器
BSE:背部分散の探知器(任意)
EDS:(任意)
標本の働く段階3つの軸線システム、XのY軸:35mm/R軸線:360°5軸線システム、XのY軸:35mm/R軸線:360°、Z:0~22mm/傾き軸線:0~45°
最高の標本直径の70mm、高さの30mm直径の80mm、高さの35mm
イメージ転位XのYのイメージ転位±150um
イメージのスキャン システム速いスキャン:320x240 (スキャン時間:0.1秒。)
遅いスキャン:640x480 (スキャン時間:3秒。)
写真モード1:1280x960
写真モード2:2560x1920
写真モード3:5120x3840
イメージのフォーマットBMP、JPEG、PNG、TIFF
自動機能自動開始、自動焦点、自動明るさ/対照
写真の表示拡大、探知器のタイプ、加速の電圧は、モード、ロゴ(テキスト)、日付に掃除機をかける及び時間は、マーカー、スケール棒、等をショートメッセージを送る。
コンピュータ及びソフトウェア全SEMの顕微鏡操作を、コンピュータ指定より少なくより内側I5 3.2GHz完全な制御の専門のイメージ分析 ソフトウェアが付いているPCのワーク・ステーションの勝利10システム、4G記憶、24" IPS LCDのモニター、500Gハード ディスク、マウス、キーボード
サイズ及び重量顕微鏡ボディ460x600x950mmの総重量95Kg
A63.7006、A63.7015標準的な用具及び部品は準備する
1前に集中させたタングステンのフィラメント5 PC/箱
2サンプル段階Dia. 15mm10 PC
3サンプル段階Dia. 25mm10 PC
4サンプル段階Dia. 15mmの45°傾き5pcs
5サンプル段階Dia. 15mm 90°の傾き5pcs
6高さの標準的なマスター1 PC
7アレン・レンチ1セット
8SEMソフトウェアCD1 PC
9カーボン伝導性テープ)1 PC
10はさみ1 PC
11Aurilave1 PC
12ピンセット1 PC